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ZoomOptics可獲得更準確的測量結果，無測量誤差

ZoomOptics系統優化了探測器的視野，從而消除了孔徑光闌造成的任何影響。結果是測量結果的精度顯著提高。

超薄樣品測量數據的超快記錄（2MHz）

薄膜和高導電性材料需要非常高的數據采集速率，以準確記錄樣品上表面的快速溫度升高。LFA 467 HyperFlash提供2 MHz的采樣率，這是LFA系統的價值。

性能特點

LFA 467 HyperFlash采用單一儀器設置，即無需更換探測器或熔爐，即可在-100 C至500 C之間進行測量。再加上市場上廣泛的配件，該儀器為測定熱物理性質開辟了全新的領域。

由于16個樣品的樣品架，樣品吞吐量高出4倍

LFA 467 HyperFlash的一個獨特優勢是能夠在整個溫度范圍內同時測量多達16個樣本。這允許以更小的操作時間和工作量輸入實現更大的樣本吞吐量。

再填充系統可用于探測器和熔爐上杜瓦瓶的自動再填充，允許LFA系統24小時不間斷運行。

技術參數

縮放光學系統：優化的視野（可選，不需要遮罩）

脈沖映射：用于有限脈沖校正和改進的cp測定

紅外探測器

InSb:RT 500 C MCT:-100 C 500 C 探測器補充裝置（可選）

大氣：惰性、氧化性、靜態和動態

真空： 150毫巴

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